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大米高光谱数据采集与产地品种无损鉴别技术方案

更新时间:2026-04-15      点击次数:44

采集大米光谱数据

一、检测目的与依据

   1、采用400-1000nm、900-1700nm双波段高光谱相机,精准采集大米的光谱数据,捕捉不同产地、不同品种大米的专属光谱特征,挖掘其因产地环境差异形成的“光谱指纹";

   2、系统验证大米不同产地的光谱曲线特征值,明确不同产地大米的光谱差异,建立产地与光谱特征的对应关系,为产地鉴别提供数据支撑;

   3、运用机器学习、深度学习等人工智能技术,对采集的高光谱数据进行训练拟合,结合化学计量学分析方法优化模型,实现通过高光谱技术无损鉴别大米产地的实验验证与产业化落地,破解传统鉴别方法繁琐、损样的痛点。

二、样品类别及数量

   样本:测试实验客户来样大米样品,数量10斤

大米样品.png

三、检测设备与采集方式

检测设备

   1. 核心设备:400-1000nm、900-1700nm高光谱相机,具备纳米级光谱分辨率,可精准捕捉不同产地大米的细微光谱差异,适配粮食光谱检测的专业需求;

   2. 辅助设备:光学暗箱(含350-2500nm光源,配套放样移动平台),隔绝外界光线干扰,保障采集环境稳定,确保光谱数据的一致性;

   3.  辅助工具:黑色托盘(低反射率背景),降低环境反射干扰,提升光谱信号辨识度,避免背景杂光影响数据准确性;

   4. 辅助材料:标签,用于标记大米产地编号,实现光谱数据与产地特征曲线值的一对一对应,便于数据追溯与校验,保障数据与产地的精准关联。


采集方式

1、样品摆放:

   a、将10斤大米样品按图示规范摆放,确保样品平铺均匀、无遮挡,保障相机视场全覆盖,确保每一份样品都能被精准采集;

暗箱.png

2、数据采集模式:

   采用反射模式,采集大米样品400-1000nm、900-1700nm的反射率数据,完整捕获不同产地大米的光谱特征

3、设备调参:

   调节相机高度,使相机视场可以覆盖所有样品

   调节镜头光圈到最大:F1.4

   调节镜头焦距,使样品图像最清晰

   调整曝光时间避免数据过曝,确保采集数据精准有效,符合高光谱数据采集的专业规范。


四、采集结果

数据提供

   提供数据格式,每个样品均提供6个标准格式文件,满足实验及技术落地需求,适配科研、质检等多场景应用:

   a、样本400-1000nm、900-1700nm原始数据(.dat、.hdr格式),完整保留原始采集信息,支持二次分析与模型优化;

   b、样本400-1000nm、900-1700nm反射率数据(.dat、.hdr格式),经标准板校准,可直接用于模型训练拟合,确保数据的可靠性;

   c、样本400-1000nm、900-1700nm高光谱图像(.png格式),直观呈现大米光谱空间分布特征,便于直观观察不同产地的光谱差异;

   d、提供样品摆放实拍图(.jpg格式),留存原始摆放状态,便于数据追溯与异常排查,保障检测流程的可追溯性。


数据展示


大米高光谱数据采集与产地品种无损鉴别技术方案

大米高光谱数据采集与产地品种无损鉴别技术方案

大米高光谱数据采集与产地品种无损鉴别技术方案

采集参考Q/EX C 0628-2025标准

大米高光谱数据采集与产地品种无损鉴别技术方案

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