一、检测目的和依据

1、使用400-1000nm、900-1700nm相机采集低G2饼干粉的光谱数据；

2、验证低G2饼干粉光谱曲线特征值；

3、使用机器学习、深度学习等技术，对低G2饼干粉高光谱数据值进行训练拟合，实现通过高光谱技术无损鉴别真伪低G2饼干粉技术实验与落地。

二、样品类别及数量

样本：测试实验客户来样低G2饼干粉样品

数量：1.5斤；

三、检测设备和方式

检测设备

1、400-1000nm、900-1700nm高光谱相机；

2、光学暗箱（含350-2500nm光源，放样移动平台）；

3、黑色托盘（低反射率背景）；

4、辅助材料：标签（（用于标记编号，方便对低G2饼干粉光谱数据与特征曲线值相对应）。

采集方式

1、样品摆放规则：将低G2饼干粉样品按如图所示摆放

2、数据采集模式：使用反射模式采集低G2饼干粉样品400-1000nm、900-1700nm反射率数据

3、设备调参：调节相机高度，使相机视场可以覆盖所有样品；调节镜头光圈到最大（F1.4）；调节镜头焦距，使样品图像最清晰；曝光时间调整到合适的值，避免采集到的样品数据过曝。

四、采集结果

1、数据提供

每个样品数据包含如下6个格式文件：

a、样本400-1000nm、900-1700nm原始数据（包含 .dat、.hdr格式）；

b、样本400-1000nm、900-1700nm反射率数据（包含 .dat、.hdr格式）；

c、样本400-1000nm、900-1700nm高光谱图像（.png格式）；

d、提供样品摆放实拍图（.jpg格式）。

2、数据展示