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塑料PC PEEK PCTFE高光谱数据分析

更新时间:2026-08-28      点击次数:22

一、检测目的与依据

1、采用900-1700nm波段高光谱相机,完成PC、PEEK、PCTFE塑料样品的光谱数据采集工作;

2、通过高光谱无损检测方式,精准提取三种塑料材质的光谱特征曲线,明确不同材质的光谱差异特征;

3、 基于机器学习、深度学习算法对采集的光谱数据集进行训练、拟合与建模,攻克高光谱技术无损识别PC、PEEK、PCTFE塑料成分的技术难点,推动该无损识别技术的实验验证与实际落地应用。

二、样品类别及数量

本次实验样品为客户提供的待测工程塑料试样,具体参数如下:

1、样品类型:涵盖PC、PEEK、PCTFE三种材质

2、样品数量:共计3片(三种材质各1片)

3、样品状态:所有样品均为原状送检,无预处理、无破损改造,可真实还原检测工况。

塑料PC PEEK PCTFE高光谱数据分析

三、检测设备与采集方式

检测设备

1.  本次实验核心使用900-1700nm近红外波段采集数据,适配塑料材料光谱特征捕捉需求;

2. 辅助设备:光学暗箱(配备350-2500nm光源及放样移动平台);

3.  辅助工具:黑色托盘(低反射率背景,避免环境光干扰光谱采集);

4. 辅助材料:专用标识标签,用于对PC、PEEK、PCTFE样品逐一编号标记,实现样品与光谱数据一一对应,保障数据溯源性。

采集方式

1、样品摆放:

a、专用标识标签,用于对PC、PEEK、PCTFE样品逐一编号标记,实现样品与光谱数据一一对应,保障数据溯源性。

塑料PC PEEK PCTFE高光谱数据分析

2、数据采集模式:

统一启用900-1700nm波段反射采集模式,采集样品表面的近红外反射光谱数据,获取各波段对应的反射率参数;

3、设备调参:

调节相机高度,使相机视场可以覆盖所有样品

调节镜头光圈到最大:F1.4

调节镜头焦距,使样品图像最清晰

调整曝光时间至适宜值,避免采集数据出现过曝现象,保证光谱数据准确性。

四、采集结果

数据提供

本次检测为每个样品提供以下6种格式的完整数据文件,确保数据可追溯、可分析:

a、900-1700nm原始数据(.dat、.hdr格式),完整保留原始采集信息,支持二次分析与模型优化;

b、900-1700nm反射率数据(.dat、.hdr格式),经标准板校准,可直接用于模型训练拟合,确保数据的可靠性;

c、900-1700nm高光谱图像(.png格式),

d、提供样品摆放实拍图(.jpg格式),留存原始摆放状态,便于数据追溯与异常排查,保障检测流程的可追溯性。

数据展示

塑料PC PEEK PCTFE高光谱数据分析

五、高光谱数据分析结果


塑料PC PEEK PCTFE高光谱数据分析

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塑料PC PEEK PCTFE高光谱数据分析

采集参考Q/EX C 0628-2025标准


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