1、采用 400‑1000nm 波段高光谱成像系统开展布线样品光谱采集试验
2、通过光学暗箱搭建检测平台,获取布线样品反射光谱曲线
3、布线产品的色差是产品外观质量重要评价指标,传统色差检测多依赖人工目视判别,存在主观误差大、效率低、无法量化分析等问题。高光谱成像技术兼具光谱信息与空间图像信息,可实现非接触、无损的样品特征信息提取,在材料外观缺陷识别领域具备良好应用潜力。
检测设备
1. 400-1000nm高光谱相机
2. 辅助设备:光学暗箱(配备350-2500nm光源及放样移动平台);
3. 辅助工具:低反射率黑色托盘,作为样品采集背景;
4. 辅助材料:用于标记样品编号,建立高光谱图像区域与对应光谱数据的一一映射关系。
采集方式
1、样品摆放:将 4 片布线试样按照试验布局平铺放置于黑色托盘上,样品之间预留足够间隔距离,规避不同样品之间光谱信号相互串扰,保障每一片样品光谱信号采集的独立性。

2、数据采集模式:
采集布线样品 400‑1000nm 波段范围内光谱反射率数据。
3、设备调参:
调节相机高度,使相机视场可以覆盖所有样品
调节镜头光圈到最大:F1.4
调节镜头焦距,使样品图像最清晰
调整曝光时间至适宜值,避免采集数据出现过曝现象,保证光谱数据准确性。
数据提供
本次检测为每个样品提供以下6种格式的完整数据文件,确保数据可追溯、可分析:
a、400-1000nm原始数据(.dat、.hdr格式),完整保留原始采集信息,支持二次分析与模型优化;
b、400-1000nm反射率数据(.dat、.hdr格式),经标准板校准,可直接用于模型训练拟合,确保数据的可靠性;
c、400-1000nm高光谱图像(.png格式),
d、提供样品摆放实拍图(.jpg格式),留存原始摆放状态,便于数据追溯与异常排查,保障检测流程的可追溯性。
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