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跟踪式光笔测量系统高精度:凭借高精度光学传感器技术和算法,能精确探测测量对象的几何特征和形位公差。在 49.0m³ 范围内,体积精度可达 0.089mm;28.6m³ 范围内,体积精度可达 0.067mm ;10.4m³ 范围内,体积精度可达 0.049mm。 测量范围广:搭配超远可视范围的跟踪器 i-Tracker,i-Probe 测量光笔标准工作距离为 6m,单站最远测量距离可至 10m
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